品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
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規格 | CSF-8-30-1U | 供貨周期 | 一個月以上 |
主要用途 | 半導體 | 應用領域 | 電子 |
品牌 | 哈默納科 | 用途 | 半導體 |
材質 | 鋼 | 精度 | 高 |
缺陷越大,這種差異也越大。因此,無論是酗量長度或當量大小,它們并不能真實表示議陷的實際尺寸。而僅僅是一個相對值,哈默納科超聲波測量精密諧波CSF-8-30-1U這個相對值與缺陷的實際尺寸之問不一定有確定性數量關系。但是,在相同條件,相同方法測定的缺陷大小之間,可類比數值的相對大小。用超聲波法測定缺陷的實際尺寸需用特殊的方法。
超聲波探傷塊陷的定位方法是根據工件中的聲速和反射時間來確定的,利用探傷儀示浪屏時間軸‘水平軸來測量。在超聲波波型《縱波、橫波、表
面波或板波)確定后,在特定工件中的聲速也就已知,把時間軸的間距調節到與工件厚度相對應,那么從爾波屏上缺陷反射波的位界就可直接讀出缺陷位置。在橫波斜角探傷中,缺陷定位比直探頭探傷要復雜些,需要對斜探頭斜楔中的聲程距離進行修正操作;要通過適當的直角三角函數運算或i!哈默納科超聲波測量精密諧波CSF-8-30-1U算尺寸確定缺陷時水平和垂直位置,若要從儀表屏波屏時間軸上直讀缺陷位置,則需用試塊進行專門的校準操作。
超聲波探傷缺..的定性尚有困難,在A型顯示中,主要根據缺陷反射波脈沖波形內特征及工藝過程和探傷人員的經驗。在B型和C顯示中,根據示波屏圖象形貌較易于判別缺陷性質。